深圳克拉克贸易有限公司

Company Profile

芯片分析手段汇总（微焦点xray,SAT;DECAP) 芯片分析手段有： 1 SAT（超声扫描),无损检查:１.材料内部的晶格结构，杂质颗粒．夹杂物．沉淀物．2. 内部裂纹. 3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙等. 2 微焦点XRay 用途：半导体BGA，线路板等内部位移的分析；利于判别空焊，虚焊等BGA焊接缺陷　 3 日本UNIOn HISOMET 测量工具显微镜测量焊球、邦定线高度 Z轴测量误差低于1微米. 4 BGA LED推拉力测试仪焊接强度测试仪采...

detail intruduction>>

Main products

TRY(香港）MFM1200推拉力测试仪、TRY（香港）PT1000载带剥离测试仪、芯片激光开盖机（美国）、HISOET（日本）测量显微镜.

Contact us

Company Name：	深圳克拉克贸易有限公司
Company address：	深圳市龙华新区和平路金銮时代大厦1001
Postal code：	518109
Company phone：	Log inCan view later
company Fax：	0755-22633330
E-mail：	2016325727@qq.com
Company website：	http://www.clack-china.com http://en.semiconshop.com/com/klkcssb/
Instant messaging：
Online status：	currently offline

Equipment hallMore>>

载带剥离力测试仪
Negotiable

日本（HISOMET）测...
Negotiable

TRY(MFM1200)
Negotiable

深圳克拉克贸易有限公司

TRY(香港）MFM1200推拉力测试仪、TRY（香港）PT1000载带剥离测试仪、芯片激光开盖...

Company Profile

Main products

Contact us