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公司介绍
芯片分析手段汇总（微焦点xray,SAT;DECAP)
芯片分析手段有：
1 SAT（超声扫描),无损检查:１.材料内部的晶格结构，杂质颗粒．夹杂物．沉淀物．2. 内部裂纹. 3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙等.
2 微焦点XRay 用途：半导体BGA，线路板等内部位移的分析 ；利于判别空焊，虚焊等BGA焊接缺陷
3 日本UNIOn HISOMET 测量工具显微镜 测量焊球、邦定线高度 Z轴测量误差低于1微米.
4 BGA LED推拉力测试仪 焊接强度测试仪 采用了AUTO-RANGE技术和VPM垂直定位技术,测试传感器采用自动量程设计,分辨率高达0.0001克.
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| Company Name： | 深圳克拉克贸易有限公司 | Type of company： | 个体经营 (贸易商) |
| In the place： | China/广东省 | Company Size： | 1-49人 |
| Registered capital： | unfilled | Registration year： | 2012 |
| Data certification： |
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| Business model： | 贸易商 | ||
| Business Scope： | TRY(香港）MFM1200推拉力测试仪、TRY（香港）PT1000载带剥离测试仪、芯片激光开盖机（美国）、HISOET（日本）测量显微镜. | ||
| Products on sale： | 售后技术支持！设备配件供应！维修！ | ||
| Major business： |
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