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    REFLEX TT型台式手动晶片缺陷检测设备 宇丰凯电子

    Applied to the semiconductor industry:

    Testing Equipment-Surface&internal Inspection-表面缺陷检测

    Product brand

    宇丰凯电子

    In stock:

    100

    Place of origin:

    China-北京市

    Quantity:

    cut back increase

    price:

    Negotiable
    Transaction guarantee Secured Transactions Online banking to pay

    Brand:宇丰凯电子

    model:

    Own series:Testing Equipment-Surface&internal Inspection-表面缺陷检测

    REFLEX TT型台式手动晶片缺陷检测设备
     
    REFLEX TT型台式表面检测设备用于检测晶片表面颗粒、划痕,区域缺陷和微粗糙(Haze)。该检测设备可用于不同形状、尺寸的样片:2”至300mm的晶片,和最大尺寸为8”*8”方形掩膜版。采用了先进的激光二极管光源和具有专利权的光学收集系统。该设备是非常灵活的设备,可用于研发和小规模生产中的工艺优化和杂质的检测。
                                                 
    产品特点:
    颗粒敏感度可达到65nm LSE;
    激光暗场测量技术;
    可用于各种形状的,尺寸的晶片;
    集成的微处理器和平板显示;
    可进行离线分析;
    自动缺陷分类软件。
     
    产品优势:
    理想的工艺研发工具;
    操作界面友好;
    多用户界面;
    占地面积小。
     
    应用范围:
    硅;
    玻璃;
    掩膜版;
    半导体化合物:GaAs,GaN,GaAlN…
    硅衬底上的透明薄膜;
    金属薄膜;
    非晶硅、多晶硅;
    OLED
    先进的光伏材料。

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