符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等试验标准要求。

★适用范围：

适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFET、IGBT等器

件的间歇寿命试验和稳态寿命试验。

★技术特点：

①在试验过程中实时测量样品的结温，并显示结温差；

②采用模块化设计，每个模块是一个独立试验单元，有独立的

试验腔体，真正做到板与板之间完全独立，每个试验单元的风

道互不影响；

③在调试模式下，无论是开通状态还是关断状态下，均可以每隔

一秒采集一次结温Tj，描绘出完整的温度变化曲线，可以防止在

寻找试验条件时损坏器件；

④三极管采用共基极试验线路，更能满足宇航级产品的试验要求；

⑤设备可选配K系数测试装置。