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XRD X射线衍射仪

Published on:2017-02-15 Author:863test

X射线衍射仪(XRD)

 

利用X射线衍射原理,精确测定物质的晶体结构及应力,进行定性和定量的物相分析,配有平行光路,可以进行表面相分析,对薄膜的结构进行表征,还配有高温样品台(室温~1200℃),可以对样品在不同温度下的相变进行表征,利用X射线全反射方法还可以测量薄膜的厚度。

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