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人们对LTE Advanced Pro、5G和802.11 ax等新无线标准的需求,带给当今的工程师新的测试挑战。 这些标准加上包络跟踪(ET)和数字预失真(DPD)等新兴技术,使得在保证准确性和不增加成本前提下,减少测试时间以及提高吞吐量变得更加困难。 NI基于PXI的测试解决方案将RF测量与混合信号仪器相结合,为RF功率放大器(PA)、RF前端模块、收发仪和集成模块等的批量生产测试提供完整的解决方案。 NI PXI解决方案可用满足从特性分析到最终生产测试等不同阶段的需求,帮助用户降低测试成本以及缩短产品上市时间。
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