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Current Position: Home » Equipment » Testing Equipment » Microscope » 金相显微镜 »Union非接触式显微镜
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    Union非接触式显微镜

    Applied to the semiconductor industry:

    Testing Equipment-Microscope-金相显微镜

    In stock:

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    Place of origin:

    National

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    Own series:Testing Equipment-Microscope-金相显微镜

     供应Union非接触式显微镜

    采用光学和非接触方法探测焦距的方法,测量不会给样品造成变形或划痕等影响,这些往往是采用物理性接触测量时产生的。基于目标分光方法原理的精密聚焦指示器的应用,以简单地把两个目标标志部分重合起来进行高精度的测量..
     

    ◎ 高精度的图像自动聚焦系统的测量结果和精确度是很可靠的,没有人为的因素。
    ◎ 通过电脑控制,可以完成多点的自动连续测量,高级的资料处理软体可以极大的提高测量时间。

    功能:
    非接触测量微细的撞击、台阶等。
    ◎ 通过高精度的光学聚焦点检测和精确的聚 焦指示器完成高精确的测量
    ◎ 简单的操作
    ◎ Z轴测量行程可从几个μm 到10mm
    ◎ 同时还可以完成测量点的表面观察

    观 测 头: 三目
    Z轴测量范围: 0.1μm 读数,10mm 行程
    Z轴测量精度: 3σ=1μm (40×)
    光学镜身: 精确的自动聚焦单元
    物 镜: 5× - 100×
    测量软体: 4种模式
    资料处理软体: 显示最大值,最小值,平均值,标准偏差值等

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    你们这个工作台角度测量多大?分度值多少?

    peert  2017-08-09

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    2017-08-16

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