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    物位仪表

    Applied to the semiconductor industry:

    Sensor and Chip-Instrument

    In stock:

    999

    Place of origin:

    National

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    Own series:Sensor and Chip-Instrument

     物位测量仪表是测量液态和粉粒状材料的液面和装载高度的工业自动化仪表。测量块状、颗粒状和粉料等固体物料堆积高度,或表面位置的仪表称为料位计;测量罐、塔和槽等容器内液体高度,或液面位置的仪表称为液位计,又称液面计;测量容器中两种互不溶解液体或固体与液体相界面位置的仪表称为相界面计。
    物位测量通常指对工业生产过程中封闭式或敞开容器中物料(固体或液位)的高度进行检测;如果是对物料高度进行连续的检测,称为连续测量。如果只对物料高度是否到达某一位置进行检测称为限位测量。完成这种测量任务的仪表叫做物位计。 物位测量仪表用来监测液体或固体料位,包括浆料和颗粒状固体。
    按测量手段来区分主要有直读式、浮力式(浮球、浮子、磁翻转、电浮筒、磁致伸缩等);回波反射式(超声、微波、导波雷达等);电容式;重锤探测式;音叉式;阻旋式;静压式等多种;其它还有核辐射式、激光式等用于特殊场合的测量方法。
    物位仪表的命名方式通常由仪表的测量手段、测量对象和测量目的三个部分组成。例如音叉物位控制器、电浮筒液位计等。对于既能测量液位又可测量料位的仪表则称为物位计。例如超声物位计、微波物位计、导波雷达物位计等。

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