半导体pct老化测试箱_Others_Testing Equipment_Equipment _Semiconductor mall-应用于半导体领域

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　　艾思荔半导体pct老化测试箱(QQ:2850687954/13532370059张S)自动门禁,圆型门自动温度与压力安全检知、门禁自动锁定控制系统,采用专利安全门把设计,内箱有大于正常压力时测试门会被反压保护而打不开.保护操作人员安全。机台具有定时干燥功能,使试验产品处于干燥状态。独家采用手动+自动补水功能;试验不终断;试验结束时设备会自动泻除压力。

　　半导体pct老化测试箱性能：

　　1、内箱尺寸：300×450mm(φ×D)圆形试验箱

　　2、外箱尺寸：660×950×600mm(W×H×D)

　　3、内箱材质：SUS304#不锈钢板材质;外箱为烤漆.

　　4、温度范围：100℃~132℃可任意设定.

　　5、湿度范围：100%RH.(饱和蒸气湿度)

　　6、压力范围：0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2绝对压力;(安全压力容量3Kg/cm2/G=1个环大

　　气压+2Kg/cm2)

　　7、时间范围：0~1000H

　　8、温度分布：(+/-)2.0℃%(100℃)

　　9、升温时间：RT~121℃约35分钟内

　　10、加压时间：0.0Kg/cm2~1.00Kg/cm2约35分钟内

　　11、循环方式：水蒸气自然对流循环方式

　　12、温度感应器：(RTD)PT-100Ω(铂金电阻)

　　13、加温电热器：绝缘耐压型温度电热器

　　半导体pct老化测试箱控制系统：

　　1、微电脑饱和蒸气温度+时间LED显示器控制器,压力+指针式显示表.

　　2、本系统符合高压加速老化之可靠度试验规格：CNS、ASO、JAS、ASTM、DIN、BSIEC、

　　NACE、UL、MIL…

　　3、控制对象：微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.

　　4、控制方式：微电脑控制.

　　5、控制精度：(+/-)0.5℃.

　　6、解析精度：0.1℃.

　　7、压力精度：(+/-)0.15KG.

　　半导体pct老化测试箱械结构：

　　1、圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.

　　2、精密设计,气密性良好,耗水量少,每次手动加水可连续运转1H;自动加水可连续运转999H;

　　3、专利型packing,内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤

　　压式完全不同,可延长packing寿命.

　　4、实验开始前之真空动作可将原来内箱之空气抽出，并吸入过滤器,过滤之新空气packing

　　<1micom.以确保箱内之纯净度.

　　5、临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示.

　　6、保修期：机器全系统保固壹年(天灾或人为因素造成损坏不在此限),终身维护.

　　7、交货期限：签订合同定金确定后30个工作日.需方工厂交货,我司提供免费包装、运

　　输人员培训、安装、调试等费用.

　　8、随机资料：(1)操作说明书、保修卡。(2)人员操作训练.

　　9、电源：AC220V;单相;50/60Hz;15A;4KW;4个平方的铜芯线。

　　用途：

　　半导体pct老化测试箱又称为高压加速老化试验机，是一款可实现高温、高压、高湿等实验条件的加速老化箱，属特种压力设备，高压加速老化试验机大大加快了客户对产品老化情况的了解，主要零部件国外进口保修一年。