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符合MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等试验标准要求；
系统能满足各种封装形式中、小功率的LED稳态寿命试验、间歇寿命试验以及电流冲击老化筛选试验。
数据库加载导入，自动完成试验过程，方便操作使用；被试器件DUT老化电源采用分区统一供给，程控方式；被试器件DUT可通过计算机检测、记录输入输出电压、电流；可根据用户的需求，定制各种老化板及测试程序。
高温试验箱1台，16个试验通道，40×16=640位，标配8台试验电源，电源规格可选；
设备具有试验电压上限、温度上限的设定，老化时间的设定；实时监测并显示每通道的老化时间、老化进度、失效工位数等；实时显示并记录保存老化参数；实时判断是否超限，超限报警并记录超限工位及超限时间；老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制漏电流变化曲线。
系统能满足各种封装形式中、小功率的LED稳态寿命试验、间歇寿命试验以及电流冲击老化筛选试验。
数据库加载导入，自动完成试验过程，方便操作使用；被试器件DUT老化电源采用分区统一供给，程控方式；被试器件DUT可通过计算机检测、记录输入输出电压、电流；可根据用户的需求，定制各种老化板及测试程序。
高温试验箱1台，16个试验通道，40×16=640位，标配8台试验电源，电源规格可选；
设备具有试验电压上限、温度上限的设定，老化时间的设定；实时监测并显示每通道的老化时间、老化进度、失效工位数等；实时显示并记录保存老化参数；实时判断是否超限，超限报警并记录超限工位及超限时间；老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制漏电流变化曲线。
