高低温试验箱，半导体高低温老化试验箱_老化箱_Life Test_Testing Equipment_Equipment

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高低温试验箱，半导体高低温老化试验箱简介

高低温试验箱，低温老化试验机用于试验各种材料耐热、耐寒、耐干性能。适合电子、电器、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。

高低温试验箱，半导体高低温老化试验箱特点
高质感外观，机体采圆弧造型，表面经雾面条纹处理，并采用平面无反作用把手，操作容易，安全可靠。
长方形复层玻璃观窗口，可在试验中进行试验品观察使用，窗口具防汗电热器装置可防止水气凝结水滴，及高亮度PL荧光灯保持箱内照明。
箱门双层隔绝气密迫紧，可有效隔绝内部温度泄漏。
具可外接式供水系统，方便于补充加湿桶供水，并自动回收使用。
压缩机循环系统采用法国“泰康”牌，更能有效去除冷凝管与毛细管间的润滑油并全系列采用环保冷媒（R23、R404、R507）。
控制器采用进口LCD显示屏幕，可同时显示测定值及设定值、时间。
控制器具有多段程序编辑及温度、湿度可做快速（OUICK）或斜率（SLOP）控制。
内置式移动滑轮便于移动及摆放并具有强力定位螺丝固定位置。
执行标准与试验方法
GB11158 高温试验箱技术条件
GB10589 低温试验箱技术条件
GB10592-89 高低温试验箱技术条件
GB/T2423.1-2001 低温试验箱试验方法
GB/T2423.2-2001 高温试验箱试验方法
GB/T2423.22-2001 温度变化试验方法
IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法
IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法
GJB150.3 高温试验
GJB150.4 低温试验
高低温试验箱，半导体高低温老化试验箱技术参数
降温时间约：约1.0℃/分钟（每分钟下降5~10℃为特殊选用条件）；
温度范围：-120、-80、-40℃~+100℃(150℃)（温度可选）；
温度均匀度：±2.0℃；
温度波动度：±1℃
升温时间约：4.0℃/分钟；
内部尺寸：1000*1000*1000（mm）可选择

内外部材质：全机为SUS 304#不锈钢板雾面处理，内箱为不锈钢
保温材质：耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料
冷却系统：风冷式/双段压缩机
保护装置：无熔丝开关、压缩机过载保护开关、冷媒高低压保护开关、超湿度超温保护开关、保险丝、故障警告系统
配件：观视窗、50mm测试孔、内部照明灯、分层隔板、干湿球纱布

压缩机：法国泰康
电源： 220VAC±10% 50/60Hz 、 380VAC±10% 50/60Hz