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高低温探针卡 道格特科技可以解决在晶圆测试中的形变,针尖水平度差异大的问题
高、低温探针卡的测试环境苛刻，针卡局部温度变化大，DGT公司经过30多年的经验积累，解决了高、低温探针卡在晶圆测试中的形变、针尖水平度差异大的问题。
产品特点：
高、低温测试（-40--150℃）
ReW/OC材质
平整度高
多Sites同测
公司概况
深圳市道格特科技有限公司（DGT），位于科技企业林立、中国改革开放第一市——深圳市。
深圳市道格特科技有限公司（DGT）专注于半导体晶圆（IC）测试、LCD屏测试、DRAM测试等测试用探针卡等测试用探针卡（Probe Card）设计、制造、维护，晶圆探针、LED点
测针的销售。
技术实力
DGT公司通过吸收美国和日本探针卡（Probe Card）制造技术，发挥自身自动设备研发的专长，研发出更高精度、自动化、一体化的生产设备，在此基础上公司可生产最小压点
（Pad）尺寸15×30μm，压点中心（Gap）最小间距20μm，多芯同测（128Sites），放针可达12层，单针卡制造技术已达5000Pins，单针满足大电流达2A以上，低漏电0.1pA
以内，测试温度范围-40℃--+150℃，高频超过2GHz以上，超大电流、大电压（200A、6500V）等不同测试要求的探针卡，广泛应用于国内、外各种高端测试平台。
经营策略
以科技为向导、质量为基础，高效快速满足客户需要。
公司定位
为客户提供专业的测试界面解决方案。
公司理念
专业、精准、高效
