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XD7500VR 技术参数：
规格:XD7500VR
尺寸(长x宽x高):1450 x 1700 x 1970mm
重量:1900 KG
最小聚集光点:0.95micron
Ｘ光发射管:开放管
X 射线管电压范围:30-160 KV
最大检测面积:458MM x 407MM
最大板尺寸: 508MM x 444MM
最大样本重量:5 KG
电源:单相 200-230V/16A
斜角视图:0-70°(360°全方位检测)
系统（几何）放大倍率:1200x
辐射安全标准:1uSv/Hr(符合欧美标准）
DAGE X-ray 产品主要特征：
最小分辨率：950纳米(0.95 微米)；
影像接收器左右偏转角度各70度（共140度），旋转360度；
图像采集:1.3M万数字CCD；
最大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm)；
最大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)；
系统最大放大倍数: 至5650X；
显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)；
安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等
DAGE X-ray 检查仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管（Open Tube）技术，在放大倍数方面远远超过了采用闭管（Closed Tube）技术的X光检测仪达到亚微米级，能满足客户更高精度的需求。
