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    8英寸射频芯片专用探针台

    Applied to the semiconductor industry:

    Testing Equipment-Electricity Test-手动探针台

    Product brand

    siradar

    Specification model:

    TPS200RF

    Delivery period:

    30Day

    In stock:

    50

    Place of origin:

    China-四川省

    Quantity:

    cut back increase

    price:

    180000.00
    Transaction guarantee Secured Transactions Online banking to pay

    consumer hotline:00864001027270

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    ¥10000.00

    Concerned Products

    Brand:siradar

    model:TPS200RF

    Own series:Testing Equipment-Electricity Test-手动探针台

     应用方向:GaAs等射频芯片S参数测试


    TPS200RF半自动测试探针台针对8英寸晶圆片测试而设计的一体化在片测试解决方案,专门为射频微波芯片参数测试而设计。探针台载片台平面采用铝合金镀金保证测试过程中的低接触电阻、超薄晶圆片处理和功率耗散,同时提供低漏电噪声的保护及屏蔽环境。产品可替代美国CASCADE对应的探针台Summit12000。

     

    AutoMap探针台控制软件简单直观控制载片台XYZ三向的步进移动,wafer图形分布描述,芯片图像对准,坐标定位等功能,同时配置经典的四向迷你位置操作键盘。

     

    ATE2.0 S参数自动化测试软件可控制网络分析仪、阻抗分析仪等,支持自动化测试探针台,实现晶圆在片的自动化批量筛选测试。


    主要功能:
    WaferMap图描述:采用工业相机,通过图像算法实时扫描Wafer并对Die进行对准
    Chuck控制:AutoMap软件或经典键盘多向操控Chuck移动
    Wafer图形模式:圆形、阵列、环形、探边多种形式式,可自定义学习模式。
    Die坐标查询:实时显示更新Die相对坐标
    打点方式:喷墨,离线打点、异步打点
    测试接口:TTL电平、RS232、GPIB、以太网
    支持探针:直流钨探针、RF探针、高压探针,大电流探针
    支持仪器:网络分析仪、LCR表
    支持软件:ATE2.0参数测试软件

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