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    大行程VIEW Benchmark™624

    Applied to the semiconductor industry:

    Testing Equipment-Optics Test-其他

    Product brand

    VIEW

    In stock:

    10

    Place of origin:

    United States

    Quantity:

    cut back increase

    price:

    Negotiable
    Transaction guarantee Secured Transactions Online banking to pay

    Brand:VIEW

    model:

    Own series:Testing Equipment-Optics Test-其他


    大行程、三轴测量系统VIEW Benchmark™™624大行程三轴测量系统
    VIEW Benchmark™™624是大容量、全自动、三维尺寸测量系统。VIEW Benchmark™624的移动桥设计创造了一个开放的工作面,方便进入测量区域,并允许被测量零件在任何时候保持静止。
    其庞大的花岗岩基座和高精度的固定倍率光学系统,Benchmark™624提供了您期待的世界一流测量系统的准确性和可靠性。
    参数
    标准配置
    选配项
    X,Y,Z 行程
    624x624x150 mm
    624x624x200 mm
    承载力
    50 kg 平均分布在玻璃上;100 kg 均匀分布在平台上
    影像及光学系统
    双放大, 固定倍率光学镜头,可更换前置镜头VIEW 2.5X b低倍率1:1前置镜头; 高倍率为4:1前置镜头
    单一放大倍率, 出厂固定倍率镜头,可更换前置镜头VIEW 1X 精筒和 2.5X 前置镜头
    相机
    1.4 兆像素1/2 inch数码单色相机
    1.4 兆像素2/3 inch数码单色相机
    2.0 兆像素 1/2 inch数码单色相机
    照明
     LED 同轴表面光和平台下背景光
    多彩程控环形光。
    栅格自动聚焦系统
    可选传感器
     
    同轴激光、白光传感器、离轴三角法激光
    测量模式
    高速移动测量(MAM)
    连续影像捕捉 (CIC)

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