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4001027270
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★符合标准: | ||
符合GJB128A、GJB33A等试验标准要求。 | ||
★适用范围: | ||
系统能满足各种封装形式的二极管全动态老化筛选试验。 | ||
★技术特点: | ||
①一板一区,可满足16种不同试验参数的器件同时老化; | ||
②可以对器件壳温及试验腔温度进行测试; | ||
③导通角大于等于160度; | ||
④实时监测显示电流、电压等试验参数。 |
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