Service Hotline
4001027270
consumer hotline:00864001027270
符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等试验标准要求。
★适用范围:
适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFET、IGBT等器
件的间歇寿命试验和稳态寿命试验。
★技术特点:
①在试验过程中实时测量样品的结温,并显示结温差;
②采用模块化设计,每个模块是一个独立试验单元,有独立的
试验腔体,真正做到板与板之间完全独立,每个试验单元的风
道互不影响;
③在调试模式下,无论是开通状态还是关断状态下,均可以每隔
一秒采集一次结温Tj,描绘出完整的温度变化曲线,可以防止在
寻找试验条件时损坏器件;
④三极管采用共基极试验线路,更能满足宇航级产品的试验要求;
⑤设备可选配K系数测试装置。
If you have any questions before purchasing, please contact us.